透過型電子顕微鏡解析システム
透過型電子顕微鏡JEM-1400(日本電子)
ウルトラミクロトームULTRCUT E(Reichert-Jung社)


広島大学 自然科学研究支援開発センター 遺伝子実験部or機器共用・分析部門

担当:教授   田中伸和   E-Mail:
担当:技術職員 小池香苗   E-Mail:



サービス内容について



試料の超微細形態をTEMで観察・撮影します。
  1. 微粒子の観察(ネガティブ染色法)
  2. ウイルス、バクテリア、オルガネラなど。
    低元素で構成される粒子を染色した後、直接観察します。金属粒子はそのまま観察可能です。
  3. 組織・細胞内部の微細構造観察(超薄切片法)
  4. 動・植物組織、培養細胞など。
    アルデヒド固定したサンプルを樹脂に包埋し、ウルトラミクロトームで超薄切した切片を観察します。


料金について



試料の状況により異なりますが、おおよその目安は以下の通りです。
  1. ネガティブ染色 1,000円程度/サンプル
  2. 超薄切片法(試料固定から観察・撮影まで)20,000円程度/サンプル
  3. 使用した消耗品、かかった時間から算出します。詳細はお問い合わせください。


サービスご利用にあたっての注意点





サービスの予約方法



大学連携研究設備ネットワークからの依頼測定のご利用方法は、こちらをご参照ください



広島大学 自然科学研究支援開発センター 遺伝子実験部門